Zeigt alle 6 Ergebnisse
Jan W. Zahlmann-Nowitzki
Ein Beitrag zur Zuverlässigkeit von EEPROM-Zellen für den erweiterten Betriebstemperaturbereich
Yaroslav Kreevenko
Ein erweitertes Kompaktmodell für die Schaltungs- und Zuverlässigkeitssimulation von Flash-Speicherzellen
Maciej Wiatr
Ein kompaktes, quasistationäres SOI-MOSFET-Modell für die Schaltungssimulation bei höheren Temperaturen
Lars Nebrich
Entwicklung eines Makromodells für die Schaltungs- und Zuverlässigkeitssimulation von EEPROM-Zellen im erhöhten Temperaturbereich
Nour Asli
Experimentelle Untersuchung der Elektrolumineszenz von MOS-Tunnelstrukturen
Tomasz Naeve
Kompaktmodellierung von Fotodiodenstrukturen
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