Jan W. Zahlmann-Nowitzki

Ein Beitrag zur Zuverlässigkeit von EEPROM-Zellen für den erweiterten Betriebstemperaturbereich

192 Seiten

Paperback

Reihe : KBMS

ISBN : 978-3-86073-794-1

40,40 

Artikelnummer: 978-3-86073-794-1 Kategorie:

Einleitung

Automobile werden zur weiteren Verbesserung der Sicherheit und des Fahrkomforts in zunehmendem
Maße mit elektronischen Systemen ausgestattet. So werden im Kraftfahrzeug vermehrt
Montagemodule realisiert, die sich durch eine räumliche Integration von Elektronik, Sensorik
und Aktuatorik innerhalb mechanischer Baugruppen auszeichnen (Mechatronik). Diese
Vorgehensweise bietet Vorteile, wie austauschbare Produktionseinheiten mit verringertem Logistikaufwand
aufgrund verminderter Teilevielfalt, eine deutlich einfachere Montage durch Reduzierung
der Kabelmenge sowie zusätzliche Freiheitsgrade in der konstruktiven Gestaltung.

Daneben wird durch eine Reduzierung der Schnittstellen, sowie durch gemeinsames, aufeinander
abgestimmtes Prüfen von Mechanik und Elektronik, eine höhere Zuverlässigkeit des Systems
erzielt. Allerdings hat die Integration zu einem mechatronischen System häufig eine hohe
thermische, chemische und mechanische Belastung für die elektronischen Teilsysteme zur Folge.
Beispiel eines solchen mechatronischen Systems ist ein bei der Fa. ZF Friedrichshafen AG entwickeltes
stufenloses Automatikgetriebe (Continuous Variable Transmission, kurz CVT) mit
einer integrierten Getriebesteuerung von Siemens Automotive. Die Integration der Komponenten
und Erprobung in einem Demonstrator erfolgte im Rahmen des vom BMBF geförderten
Verbundprojektes VEMECH (Versteckte Mechatronik im Aggregat), in dem Partner aus Industrie
und Forschungsinstituten mitwirkten. Die Elektronik der Getriebesteuerung ist in diesem
Beispiel in das Getriebeöl eingelagert und damit Betriebstemperaturen um 160◦C ausgesetzt.
Systematische Untersuchungen zur Zuverlässigkeit der Elektronikkomponenten bei diesen Betriebstemperaturen
fehlten zu Beginn der Arbeiten zu dem genannten Projekt. Insbesondere
lagen zu Beginn keine Aussagen zur Zuverlässigkeit der in das System integrierten nichtflüchtigen Halbleiterspeicher vor. Nichtflüchtige Halbleiterspeicher wie zum Beispiel Flash-
EPROM (Erasable Programmable Read-Only Memory) oder EEPROM (Electrically Erasable
Programmable Read-Only Memory), gewährleisten eine verlustfreie Speicherung der Informationen
bei ausgeschalteter Versorgungsspannung und sind zudem elektrisch wiederbeschreibbar.
Aufgrund dieser herausragenden Eigenschaften hat sich die Anwendung der nichtflüchtigen
Halbleiterspeicher in portablen Computern und Mobiltelefonen durchgesetzt. Derzeit steigt
die Verwendung der Speicher in sicherheitsrelevanten Bereichen wie der Automobiltechnik…

Gewicht 290,00000000 g
Größe 14,8 × 21,0 cm

Jan W. Zahlmann-Nowitzki