Lars Nebrich

Entwicklung eines Makromodells für die Schaltungs- und Zuverlässigkeitssimulation von EEPROM-Zellen im erhöhten Temperaturbereich

172 Seiten

Paperback

Reihe : KBMS

Bandnummer : 6

ISBN : 978-3-86073-795-8

35,00