Einleitung
Nichtflüchtige Halbleiterspeicher werden seit ihrer ersten Einführung in 1971 in immer größerem
Maße in elektronischen Systemen eingesetzt. Durch die Einführung der rein elektrisch
umprogrammierbaren EEPROMs in 1983 und der Flash-EPROMs in 1990 wurde die Grundlage
für den verstärkten Einsatz eingebetteter (engl. embedded) nichtflüchtiger Speichermodule
in ASICs (Application Specific Integrated Circuits) oder Mikrokontrollern geschaffen.
Die Einsatzgebiete von ASICs oderMikrokontrollern mit nichtflüchtigen Speichermodulen sind
sehr vielfältig und reichen von der einfachen Chipkarte bis zu sicherheitsrelevanten Steuerungssystemen,
wie sie im Automobilbereich immer stärker eingesetzt werden. Im Automobilbereich
sind durch die zunehmende Integration von mechanischen und elektrischen Komponenten in
einem mechatronischen System (z.B. im Getriebe oder Motor) die Speicher zudem noch einer
erhöhten mechanischen, chemischen und thermischen Belastung ausgesetzt.
In der Steuerelektronik des Getriebes oder des Motors werden die nichtflüchtigen Speicher zur
Speicherung von Betriebsprogrammen bzw. Adaptivdaten genutzt. Daher sind sowohl eine hohe
Datensicherheit, als auch eine hohe Umprogrammierbarkeit (Datenwechselstabilität) zu fordern.
Die Speicher können in der Anwendung jedoch Temperaturen bis maximal 160. . .200◦C
ausgesetzt sein, welche die Funktion, die Datensicherheit oder die Datenwechselstabilität beeinflussen.
Um Aussagen über die Zuverlässigkeit der Speicher im Bereich von niedrigen bis zu den oben
genannten hohen Temperaturen zu machen, müssen Untersuchungen zur Qualifizierung der Datenwechselstabilität
und der Datensicherheit durchgeführt werden. Diese Tests sind jedoch sehr
zeitaufwendig. Es wird deshalb auch im Hinblick auf immer kürzere Produktzyklen notwendig,
die Charakterisierung durch Simulationsunterstützung zu beschleunigen. Eine Simulationsunterstützung
bietet ausserdem die Möglichkeit schon während der Entwicklung der EEPROMZellen
das Design bezüglich der Zuverlässigkeitskriterien Datensicherheit und Datenwechselstabilität
zu optimieren…